第0年
通過對材料進行X射線衍射,得到其衍射圖譜,可獲得材料的成分、內部原子或分子的結構或形態等信息,可用于物相鑒定,粒徑表征,點陣參數、結晶度、殘余應力、晶體取向及織構的測定,具有不損傷樣品、無污染、快捷、高精度、可獲取信息量大等優點。
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