原則上測試樣品不回收，線站回收樣品安排兩到三個月一次，若樣品有剩余可安排回收；，同步輻射XAFS測試擬合需求表下載鏈接：http://cloud，ceshigo，com/s/lo9cepyq，同步輻射XAFS分析，當(dāng)X射線穿過樣品時，由于樣品對X射線的吸收，光的強(qiáng)度會發(fā)生衰減，這種衰減與樣品的組成及結(jié)構(gòu)密切相關(guān)，XAFS就是利用X射線入射前后信號變化來分析材料元素組成、電子態(tài)及微觀結(jié)構(gòu)等信息的光譜學(xué)手段。

本期，筆者重點(diǎn)介紹同步輻射XAFS技術(shù)，不依賴于長程有序結(jié)構(gòu)，可用于非晶態(tài)材料的研究；，不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；，不受樣品狀態(tài)影響，可測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態(tài)）和氣體等；，作者以Bi和Bi2O3作為參考，分析了Bi2O2Se和Bi2O2Se/G復(fù)合材料中BiL3邊XANES光譜（圖8），同時利用吸收邊特征，根據(jù)偶極子選擇規(guī)則探測電子從2p3/2軌道到空6d軌道的激發(fā)。

第二代是同步輻射專用光源，典型設(shè)計(jì)為利用彎轉(zhuǎn)磁鐵產(chǎn)生同步輻射，它們都是電子儲存環(huán)，通常能量較低，如美國布魯克海文guo家實(shí)驗(yàn)室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實(shí)驗(yàn)室LNLS光源（1，然而XAFS測試的門檻相對較高，一方面是由于國內(nèi)機(jī)時供不應(yīng)求，如上海光源BL14W1線站的機(jī)時申請獲批率僅有15%；另一方面，數(shù)據(jù)解析所涉及的物理知識相對深奧，需要有一定基礎(chǔ)的專業(yè)人員才能解析出更具有可信度的結(jié)果。