組分分析的前提是對(duì)于含有的物質(zhì)種類有相對(duì)清楚的認(rèn)識(shí)，常見(jiàn)問(wèn)題，Q1、XAFS能獲得什么信息？，能獲得高精度的配位原子的種類、配位數(shù)以及原子間距等結(jié)構(gòu)參數(shù)，Q2、XAFS，XANES，EXAFS有什么聯(lián)系和區(qū)別嗎？，Q3、為什么給出的R空間譜圖和table中的鍵長(zhǎng)不一樣？，EXAFS擬合給出的是整個(gè)體系的平均結(jié)果，如體系中20%是六配位，80%是四配位，那么理論上給出的結(jié)果為（6*20%+4*80%=）4。

本期，筆者重點(diǎn)介紹同步輻射XAFS技術(shù)，不依賴于長(zhǎng)程有序結(jié)構(gòu)，可用于非晶態(tài)材料的研究；，不受其它元素干擾，可對(duì)同一材料中不同元素分別研究；，不受樣品狀態(tài)影響，可測(cè)量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態(tài)）和氣體等；，作者以Bi和Bi2O3作為參考，分析了Bi2O2Se和Bi2O2Se/G復(fù)合材料中BiL3邊XANES光譜（圖8），同時(shí)利用吸收邊特征，根據(jù)偶極子選擇規(guī)則探測(cè)電子從2p3/2軌道到空6d軌道的激發(fā)。

第二代是同步輻射專用光源，典型設(shè)計(jì)為利用彎轉(zhuǎn)磁鐵產(chǎn)生同步輻射，它們都是電子儲(chǔ)存環(huán)，通常能量較低，如美國(guó)布魯克海文guo家實(shí)驗(yàn)室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實(shí)驗(yàn)室LNLS光源（1，然而XAFS測(cè)試的門檻相對(duì)較高，一方面是由于國(guó)內(nèi)機(jī)時(shí)供不應(yīng)求，如上海光源BL14W1線站的機(jī)時(shí)申請(qǐng)獲批率僅有15%；另一方面，數(shù)據(jù)解析所涉及的物理知識(shí)相對(duì)深?yuàn)W，需要有一定基礎(chǔ)的專業(yè)人員才能解析出更具有可信度的結(jié)果。