本期，筆者重點介紹同步輻射XAFS技術(shù)，不依賴于長程有序結(jié)構(gòu)，可用于非晶態(tài)材料的研究；，不受其它元素干擾，可對同一材料中不同元素分別研究；，不受樣品狀態(tài)影響，可測量固體（晶體、粉末），液體（溶液、熔融態(tài)）和氣體等；，作者以Bi和Bi2O3作為參考，分析了Bi2O2Se和Bi2O2Se/G復合材料中BiL3邊XANES光譜（圖8），同時利用吸收邊特征，根據(jù)偶極子選擇規(guī)則探測電子從2p3/2軌道到空6d軌道的激發(fā)。

對樣品無破壞，可進行原位測試；，能獲得高精度的配位原子種類、配位數(shù)及原子間距等結(jié)構(gòu)參數(shù)，一般認為原子間距度可達0，01?，在研究中，XAFS越來越成為“標配”，國內(nèi)越來越多的課題組力圖通過該技術(shù)進行深入表征，提升研究檔次，有鑒于此，湖南大學譚勇文教授課題組[4]對BiSn合金前驅(qū)體，采用一步電化學刻蝕的方法，得到了一種新型的Bi基納米線結(jié)構(gòu)催化劑，該催化劑以高導電性的Bi為金屬核，以Sn摻入非晶相BiOx為殼，zui終實現(xiàn)了電化學還原CO2為甲酸的高選擇性。

第二代是同步輻射專用光源，典型設計為利用彎轉(zhuǎn)磁鐵產(chǎn)生同步輻射，它們都是電子儲存環(huán)，通常能量較低，如美國布魯克海文guo家實驗室NSLS光源（800MeV），巴西guo家同步輻射實驗室LNLS光源（1，然而XAFS測試的門檻相對較高，一方面是由于國內(nèi)機時供不應求，如上海光源BL14W1線站的機時申請獲批率僅有15%；另一方面，數(shù)據(jù)解析所涉及的物理知識相對深奧，需要有一定基礎的專業(yè)人員才能解析出更具有可信度的結(jié)果。