X射線吸收精細結構(X-ray absorption fine structure,XAFS),也叫X射線吸收譜(X-ray absorption spectroscopy,XAS),是一種基于同步輻射光源、研究材料局域原子或電子結構的一種有力工具,廣泛應用于催化、能源、納米等熱門領域,主要有以下優點:
1.不依賴于長程有序結構,可用于非晶態材料的研究;
2.不受其它元素干擾,可對同一材料中不同元素分別研究;
3.不受樣品狀態影響,可測量固體(晶體、粉末),液體(溶液、熔融態)和氣體等;
4.對樣品無破壞,可進行原位測試;
5.能獲得高精度的配位原子種類、配位數及原子間距等結構參數,一般認為原子間距精確度可達0.01?。
XAFS數據解析可提供以下數據及服務:
1.XANES部分圖譜,提供價態、初步結構的定性分析;
2.EXAFS擬合,提供配位原子種類、配位數和鍵長信息,以及簡單的、從物理角度對譜的分析;
3.wavelet圖譜,作為EXAFS擬合的進一步證據,同時用小波炫圖提高數據分析“逼格”;
4.幫答復審稿意見中關于XAFS的問題,提供中文回答,但不包括論文寫作;
5.同步輻射不參與論文致謝活動,且致謝半價活動于2020年1月1日結束,所有優惠政策不可疊加。