功能介紹

掠入射X射線散射（GIXS）包括掠入射廣角散射（GIWAXS）和掠入射小角度散射（GISAXS），是基于同步輻射光源的X射線散射技術，用于表征表面或薄膜中的納米級密度相關性、納米物體形狀以及晶格中的原子和分子距離，被廣泛應用于研究有機太陽能電池、鈣鈦礦太陽能電池的形貌特征、晶體結構等。

例如在OPV材料結構研究中，GIWAXS被用來探測分子尺度、結構信息，常用于研究有機給體和受體材料在活性層中的分子堆疊，如結晶度、晶格常數和取向性。GISAXS可以看作是傳統小角散射和全反射測量的結合，能夠獲得表面、薄膜、覆蓋層中的納米結構（如納米顆粒、量子點等）的尺寸分布、形狀以及排列分布的相關信息。

提供優 質快速的GIXS測試和數據分析服務，目前已同南昌大學、南京理工、華南理工、電子科大等眾多OPV、鈣鈦礦課題組開展測試合作。

制樣要求

提示：GIWAXS/GISAXS測試有同步輻射光源和常規光源，請先根據文獻或測試需求確認是否需要同步輻射光源測試GIWAXS/GISAXS。

長沙同步輻射檢測機構

1.樣品測試請提供空白基底樣，要求在空白基底上沉積與器件制備工藝一致的傳輸層且測試收費；

2.基底多為單晶硅，可提供，若自行準備尺寸不可超過2.5*2.5cm，1*1cm好，默認樣品不回收；

3.測試前請明確測試條件，如q值范圍、掠入射角度范圍、曝光時間等；

4.如對數據格式、數據處理有疑問，請先瀏覽數據說明；

5.同步輻射項目測試為機時預約制，需測試前付費預約；

6.請根據材料的耐氧、耐濕等性質，妥善封裝樣品；

7.如有任何測試相關問題，請聯系負責人解答。